客制化半导体图像检测方案是采用CCD，CMOS器件，通过光学、机械、电子、传感器等辅助机构获取 样品图像，对样品尺寸、制造瑕疵、夹杂物或者是定位精度进行自动检测并输出数据。在半导体行业主要用于QA，QC，PE(Process engineering), 拓展人工测量所不能及的高重复性，高精度定位，大量样本图像采集检验的工作，排除人工误差，提高工作效率，解放OP的双手双眼，此外可以用于探索验证更高级的AI分析结构化验证，和最优方案筛选等。灵活的模块化设计和高效客制化软件开发团队，极大的缩短了现场交付周期并加快产品和检测工艺迭代进化。

IMC测量解决方案